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無接觸少子壽命掃描儀(HS-MWR-2S3)

無接觸少子壽命掃描儀 


合能陽光無接觸少子壽命掃描儀(HS-MWR-2S3)功能強(qiáng)大,能夠?qū)尉Ч璋?、多晶硅塊及硅片提供快速、無接觸、無損傷、高分辨率的多功能掃描測試,其通過微波光電衰退特性原理來測量非平衡載流子壽命的,并且單晶硅棒、多晶硅塊無須進(jìn)行特殊處理。少子壽命測試量程從0.5μs到300μs,P型電阻率量程為0.8-100Ω.cm,N型電阻率量程為0.5-100Ω.cm,是太陽能電池硅片企業(yè)、多晶鑄錠企業(yè)、拉晶企業(yè)不可多得的測量儀器。



無接觸少子壽命掃描儀軟件



無接觸少子壽命掃描儀-產(chǎn)品特點(diǎn)


無接觸和無損傷測量
自動測量,具有傳送系統(tǒng),可進(jìn)行連續(xù)測量
快速測量,測試掃描速度達(dá)到2000mm/min
測試范圍廣:包括硅塊、硅棒、硅片等少子壽命測量
主要應(yīng)用于硅棒硅塊、硅片的進(jìn)廠、出廠檢查,生產(chǎn)工藝過程中重金屬沾污和缺陷的監(jiān)控等 
性價比高,極大程度地降低了企業(yè)的測試成本


無接觸少子壽命掃描儀-推薦工作條件

溫度:18-26℃
濕度:10%~80%
大氣壓:750±30毫米汞柱






無接觸少子壽命掃描儀-技術(shù)指標(biāo)

少子壽命測試范圍:0.5μs-300μs
測試掃描速度:2000mm/min
測試尺寸:215mm*215mm*400mm
電阻率范圍:
P型:0.8Ω.cm-100Ω.cm(范圍之外可測量,但將有一定測試偏差)
N型:0.5Ω.cm-100Ω.cm(范圍之外可測量,但將有一定測試偏差)
激光波長:980±30nm,測試功率范圍:50-500mw
硅棒硅塊掃描間距:≥1mm
儀器測試精度:±3.5%,信號處理偏差≤2%
工作頻率:10GHz±0.5
微波測試單元功率:0.01W±10%
電源:~220V 50Hz 功耗<200W
主機(jī)尺寸:365mm * 645mm *565mm
主機(jī)重量:30KG



無接觸少子壽命掃描儀-典型用戶

英利新能源、晶晶光電、上海清華、蠡縣英利、江西晶科、申和熱磁、海潤光伏、江蘇兆晶、成都蓉威、安徽天翊、桂林尚鼎、山東泰岱、揚(yáng)州金威、輝煌能源