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無接觸電阻率型號(hào)測(cè)試儀

無接觸電阻率型號(hào)測(cè)試儀

無接觸式電阻率型號(hào)測(cè)試儀TRM-100是基于渦流(Eddy Current)測(cè)試技術(shù),能夠?qū)枇稀⒐璋?、硅錠及硅片進(jìn)行無接觸、無損傷的體電阻率測(cè)試。



無接觸式電阻率型號(hào)測(cè)試儀 - 產(chǎn)品特點(diǎn)

測(cè)試范圍廣,低阻可測(cè)至0.001ohm.cm,甚至0.0007hm.c,高阻可測(cè)至100ohm.c
產(chǎn)品體積小,便于移動(dòng)和攜帶
采用渦流法測(cè)試硅錠、棒、回爐料體電阻率
無接觸、無損傷快速測(cè)試
測(cè)試前無需表面處理
特別對(duì)于多晶,能夠有效避免晶界對(duì)測(cè)試的影響
測(cè)試范圍:0.001-100 ohm.cm (分段測(cè)試)
可選加無接觸PN型號(hào)測(cè)試功能
可進(jìn)行溫度和厚度的修正



無接觸式電阻率型號(hào)測(cè)試儀 - 技術(shù)指標(biāo)

硅棒硅塊可測(cè)量電阻率范圍:0.001-100Ohm.cm.
最小測(cè)試厚度:200μm
測(cè)量時(shí)間:2秒/次
最小測(cè)試面積:30x30 mm2
推薦使用溫度:20℃
濕度:≤80%
氣壓:86-106kPa
使用電壓:230±10V
頻率,50±3Hz
功率消耗:≤5W
尺寸(LxWxH):280x200x60mm



無接觸式電阻率型號(hào)測(cè)試儀 - 典型客戶

美國(guó),歐洲,亞洲及國(guó)內(nèi)太陽能及半導(dǎo)體客戶。