上海半導(dǎo)體照明工程技術(shù)研究中心實(shí)驗(yàn)室隸屬于國(guó)家半導(dǎo)體照明工程上海產(chǎn)業(yè)化基地，是基于國(guó)家高技術(shù)研究發(fā)展計(jì)劃（863計(jì)劃）規(guī)劃而建立的半導(dǎo)體照明公共檢測(cè)與評(píng)估中心。
實(shí)驗(yàn)室在半導(dǎo)體照明和應(yīng)用技術(shù)領(lǐng)域具備國(guó)內(nèi)外領(lǐng)先的檢測(cè)、培訓(xùn)、研發(fā)等能力，同時(shí)可為客戶(hù)定制全方位的系統(tǒng)解決方案。實(shí)驗(yàn)室下設(shè)光、色、電、熱、壽命、可靠性等多個(gè)項(xiàng)目的檢測(cè)與評(píng)估實(shí)驗(yàn)室，具有以下幾方面的檢測(cè)優(yōu)勢(shì)：
1. 具備LED器件、芯片、熒光粉、封裝材料等的全性能測(cè)試的能力；
2. 具備各類(lèi)燈具的全性能測(cè)試的能力；
3. 是國(guó)內(nèi)唯一具備近場(chǎng)檢測(cè)與模擬分析能力的實(shí)驗(yàn)室；
4. 熱學(xué)檢測(cè)和模擬分析能力達(dá)到國(guó)際先進(jìn)水平。
實(shí)驗(yàn)室長(zhǎng)期與復(fù)旦大學(xué)、上海大學(xué)、上海理工大學(xué)、上海光學(xué)精密機(jī)械研究所、中科院技術(shù)物理研究所和國(guó)家電光源質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)中心等保持合作關(guān)系，不斷拓展在半導(dǎo)體照明和應(yīng)用技術(shù)領(lǐng)域的檢測(cè)、培訓(xùn)和研發(fā)能力。
光色電特性檢測(cè)介紹
實(shí)驗(yàn)室引進(jìn)了國(guó)內(nèi)頂尖的專(zhuān)業(yè)LED光電測(cè)試設(shè)備，如全波段快速光譜分析系統(tǒng)、增強(qiáng)型紫外-可見(jiàn)-近紅外光譜分析系統(tǒng)，以及國(guó)際光學(xué)檢測(cè)設(shè)備的領(lǐng)導(dǎo)者藍(lán)菲光學(xué)的光電測(cè)試系統(tǒng)，從而具備對(duì)LED器件、模塊和各類(lèi)室內(nèi)外燈具等的光色電特性檢測(cè)和評(píng)估能力。此外，藍(lán)菲光學(xué)光電測(cè)試系統(tǒng)還可與LED器件的壽命測(cè)試相結(jié)合，由專(zhuān)用固定夾具實(shí)現(xiàn)低重復(fù)性誤差的器件光衰特性跟蹤測(cè)試，獨(dú)創(chuàng)了LED光、色、電、壽命四方面準(zhǔn)實(shí)時(shí)測(cè)量的新理念。
全波段快速光譜分析系統(tǒng)
紫外-可見(jiàn)-近紅外光譜分析系統(tǒng)
藍(lán)菲光學(xué)光電測(cè)試系統(tǒng)
空間光分布及平面光源檢測(cè)介紹
實(shí)驗(yàn)室配置了適用于各類(lèi)光源的國(guó)內(nèi)頂尖分布光度檢測(cè)設(shè)備，從而具備對(duì)LED器件、模塊和各類(lèi)室內(nèi)外燈具的空間光度分布的檢測(cè)能力，同時(shí)具有對(duì)各類(lèi)室內(nèi)外燈具的空間顏色分布的檢測(cè)能力。測(cè)試結(jié)果符合CIE國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)，可輸出為IESNA、CIE等格式文件，直接作為照明設(shè)計(jì)軟件的輸入數(shù)據(jù)。
分布光度計(jì)
LED器件及小型光源分布光度計(jì)
近場(chǎng)光學(xué)檢測(cè)介紹
實(shí)驗(yàn)室通過(guò)引進(jìn)國(guó)際知名光學(xué)檢測(cè)設(shè)備品牌Radiant的最新近場(chǎng)光強(qiáng)度分布測(cè)量系統(tǒng)，從而成為國(guó)內(nèi)唯一一家具備近場(chǎng)檢測(cè)與模擬分析能力的實(shí)驗(yàn)室，具備對(duì)LED器件、模塊和其他小光源的近場(chǎng)空間光分布和空間顏色分布的檢測(cè)能力。
近場(chǎng)光強(qiáng)度分布測(cè)量系統(tǒng)
該系統(tǒng)采用Radiant的最新的成像色度計(jì)，拍攝光源周?chē)鷶?shù)千個(gè)觀察角度的圖像，統(tǒng)計(jì)光通量，精確特征光源的近場(chǎng)輸出特性。支持縱向和橫向測(cè)量，適用幾乎所有常見(jiàn)的光源。
該系統(tǒng)從多個(gè)角度拍攝光源影像，建立一個(gè)光源亮度和色度輸出的三維空間圖像。這些測(cè)量匯總成一個(gè)RSM格式的Radiant光源模型，它是一個(gè)詳細(xì)描述光源近場(chǎng)特性的行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)。RSM通過(guò)Radiant的ProSource軟件生成可包含任意數(shù)量光線(xiàn)的光線(xiàn)集。光線(xiàn)集可以導(dǎo)入至各種主流光學(xué)和照明系統(tǒng)設(shè)計(jì)軟件。
熱學(xué)檢測(cè)介紹
實(shí)驗(yàn)室在熱學(xué)檢測(cè)和模擬分析能力方面達(dá)到國(guó)際先進(jìn)水平，通過(guò)配置國(guó)際頂尖的LED專(zhuān)業(yè)熱阻測(cè)試儀和接近軍用級(jí)別的紅外熱像儀，從而具備對(duì)LED的各類(lèi)熱學(xué)性能的檢測(cè)和對(duì)其熱可靠性的評(píng)估能力。
熱阻測(cè)試儀
由美國(guó)Analysis Tech公司生產(chǎn)，符合美國(guó)軍標(biāo)和JEDEC標(biāo)準(zhǔn)。該設(shè)備可以測(cè)試不同環(huán)境下的熱阻，芯片到空氣的熱阻，芯片到外殼的熱阻和芯片到電路板的熱阻，并利用瞬態(tài)測(cè)試方法對(duì)器件的散熱結(jié)構(gòu)及RC模型進(jìn)行分析，為器件的熱可靠性分析提供科學(xué)的依據(jù)。
紅外熱像儀
由日本NEC公司生產(chǎn)的紅外熱像儀，主要用于測(cè)試物體表面的熱分布情況。該設(shè)備像素高、響應(yīng)速度快，接近軍用級(jí)別，結(jié)合微距鏡頭，能精確分辨0.1mm的被測(cè)物體溫場(chǎng)分布，對(duì)小型功率型LED器件也能實(shí)現(xiàn)溫度分布分析。
抗靜電和壽命檢測(cè)介紹
實(shí)驗(yàn)室引進(jìn)了日本頂尖的靜電測(cè)試儀，可以實(shí)現(xiàn)對(duì)半導(dǎo)體芯片的靜電損傷成因進(jìn)行深入分析。同時(shí)，實(shí)驗(yàn)室通過(guò)自行研發(fā)LED加速老化壽命測(cè)試系統(tǒng)及LED常規(guī)老化壽命測(cè)試系統(tǒng)，從而具備對(duì)LED器件、模塊和各類(lèi)燈具的壽命檢測(cè)和評(píng)估能力。
靜電測(cè)試儀
LED加速老化壽命測(cè)試系統(tǒng)
LED常規(guī)老化壽命測(cè)試系統(tǒng)
實(shí)驗(yàn)室檢測(cè)能力特色介紹
實(shí)驗(yàn)室除了具備對(duì)LED光、色、電、熱、壽命、可靠性等的常規(guī)測(cè)試能力外，還具備一系列的特色檢測(cè)項(xiàng)目：
1. 對(duì)熒光粉的激發(fā)能力的檢測(cè)；
2. 檢測(cè)LED器件的衰減成因，芯片與熒光粉在衰減程度上的差異性；
3. LED器件光電性能檢測(cè)與壽命測(cè)試相結(jié)合，實(shí)現(xiàn)低重復(fù)性誤差的器件光衰特性跟蹤測(cè)試；
4. 對(duì)燈具的空間顏色分布的檢測(cè)；
5. 利用近場(chǎng)光分布的檢測(cè)結(jié)果，配合光學(xué)設(shè)計(jì)軟件，模擬光源的光學(xué)設(shè)計(jì)結(jié)構(gòu)；
6. 檢測(cè)OLED新型顯示器件、產(chǎn)品及中間部件的光色特性；
7. 檢測(cè)LED器件封裝中的熱阻分布情況；
8. 檢測(cè)輻射涂料的輻射散熱能力；
9. 檢測(cè)多模塊路燈中不同模塊間的散熱情況；
10. 檢測(cè)外延片上各區(qū)域的抗靜電能力的情況；
上海半導(dǎo)體照明工程技術(shù)研究中心檢測(cè)實(shí)驗(yàn)室於2012年5月22日獲得中國(guó)計(jì)量認(rèn)證CMA資質(zhì)；於2012年6月20日正式獲中國(guó)合格評(píng)定國(guó)家認(rèn)可委員會(huì)（CNAS）檢測(cè)實(shí)驗(yàn)室能力認(rèn)證（注冊(cè)編號(hào)：L5713）。
