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藍(lán)寶石和碳化硅品質(zhì)提升解決方案 >> 表面油污解決方案 >> 晶體表面油污檢測(cè)及處理方案
晶片表面有油污，很難以檢測(cè)到，即便用KLA也難以判斷，這主要是有檢測(cè)原理決定的。有污染的晶片若被應(yīng)用的外延，就會(huì)嚴(yán)重影響到LED的品質(zhì)，使成品率下降。所以，如果要排除污染，就必須有一個(gè)專業(yè)的設(shè)備進(jìn)行探測(cè)與判斷。
合能陽光提供SQM-500W表面質(zhì)量檢測(cè)系統(tǒng)用于對(duì)樣品表面清潔質(zhì)量進(jìn)行檢測(cè)與分析。
SQM系列產(chǎn)品的重大突破是首次提供表面清潔度的定量分析?？梢詫?duì)各種表面上的污染進(jìn)行非接觸無損傷的快速準(zhǔn)確的測(cè)量。結(jié)果能夠?yàn)閮?yōu)化表面清潔工藝提供真實(shí)可靠的分析，為產(chǎn)品品質(zhì)提供有力可信的保證，是公司利潤和信譽(yù)提供必不可少的保障。
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