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   全自動光譜橢偏儀(PH-ASE型)把使用者從煩瑣的手動調(diào)節(jié)樣品高度和傾斜度工作中解放出來，樣品對準(zhǔn)是為了保證橢偏儀測量的可重復(fù)性和精確性。已獲得專利的自動樣品對準(zhǔn)裝置能夠顯著減少操作失誤；能夠工作于透明或反射基底；能夠進(jìn)行地貌圖測量，包括翹曲晶片。



產(chǎn)品特點：

■ 全自動樣品校準(zhǔn)

■ 高測量速率 < 8秒

■ 消除了全波段范圍內(nèi)的盲點

■ 可測量透明和吸收基底

■ 高測量精度

■ 具有實驗數(shù)據(jù)和模擬數(shù)據(jù)三維繪圖功能

■ 友好的軟件界面，強(qiáng)大數(shù)據(jù)分析功能

■ 具有實驗數(shù)據(jù)和模擬數(shù)據(jù)三維繪圖功能



技術(shù)指標(biāo)：

■ 光源：氙燈

■ 光斑直徑：1-3mm

■ 入射角范圍：20°到90°自動控制

■ 波長范圍：350-850nm， 250-1100nm， 250-1700nm：0.002°~ 0.02°

■ 波長精度：1nm

■ 測量時間: < 8s （取決于測量模式和粗糙度）

■ 入射角度精度：0.01




可選配：

■ CCD線陣列探測元件：200-850nm，350-1000nm

■ 樣品顯微鏡

■ 高穩(wěn)定性消色差補(bǔ)償器

■ 透射測量架

■ XY移動樣品臺




典型客戶：

美國，歐洲，亞洲及國內(nèi)太陽能及半導(dǎo)體客戶。
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