產(chǎn)品介紹:
硅片缺陷觀測(cè)儀(HS-WDI),于對(duì)硅片的缺陷進(jìn)行觀察,效果非常明顯,包括肉眼無(wú)法觀測(cè)的位錯(cuò)、層錯(cuò)、劃痕、崩邊等。
實(shí)時(shí)對(duì)圖像進(jìn)行分析、測(cè)量和統(tǒng)計(jì),提高傳統(tǒng)光學(xué)儀器的使用內(nèi)涵。配合投影儀和計(jì)算機(jī)等顯示、存儲(chǔ)設(shè)備,能更好的觀測(cè)和保存研究結(jié)果。
產(chǎn)品特點(diǎn):
■ 適用于對(duì)硅片的缺陷觀察效果,非常明顯,包括肉眼無(wú)法觀測(cè)的位錯(cuò)、層錯(cuò)、劃痕、崩邊等;
■ 使硅片缺陷觀察工作簡(jiǎn)單化,準(zhǔn)確化,同時(shí)極大程度降低此項(xiàng)工作強(qiáng)度;
■ 實(shí)時(shí)對(duì)圖像進(jìn)行分析、測(cè)量和統(tǒng)計(jì),提高傳統(tǒng)光學(xué)儀器的使用內(nèi)涵。配合投影儀和計(jì)算機(jī)等顯示、存儲(chǔ)設(shè)備,能更好的觀測(cè)和保存研究結(jié)果;
■ 使用 1/2"CMOS 感光芯片,具有體積小,技術(shù)先進(jìn),像素較高, 成像清晰 、線條細(xì)膩、色彩豐富;
■ 傳輸接口為 USB2.0 高速接口, 軟件模塊化設(shè)計(jì);
■ 有效分辨率為 200 萬(wàn)像素;
■ 所配軟件能兼容 windows 2000 和 windows XP 操作系統(tǒng)。
實(shí)際觀察效果:
硅片放大效果100倍
硅片放大效果200倍
硅片放大效果400倍
推薦工作條件:
■ 溫度:23±2℃
■ 濕度:60%~70%
■ 無(wú)強(qiáng)磁場(chǎng)、不與高頻設(shè)備鄰近
典型用戶:
浙江昱輝、江西塞維LDK、常州天合等