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    合能陽光無接觸少子壽命測試儀(MWR-SIM),是一款功能強(qiáng)大的無接觸少子壽命測試儀,能夠?qū)尉Ч璋簟⒍嗑Ч鑹K及硅片提供快速、無接觸、無損傷單點少子壽命測試,其通過微波光電衰退特性原理來測量非平衡載流子壽命的,并且單晶硅棒、多晶硅塊無須進(jìn)行特殊處理。少子壽命測試量程從0.5μs到300μs,P型電阻率量程為0.8-100Ω.cm,N型電阻率量程為0.5-100Ω.cm,是太陽能電池硅片企業(yè)、多晶鑄錠企業(yè)、拉晶企業(yè)不可多得的測量儀器。

產(chǎn)品特點:
無接觸和無損傷測量
可移動掃描頭,便于測量
測試范圍廣:包括硅塊、硅棒、硅片等少子壽命測量
主要應(yīng)用于硅棒硅塊、硅片的進(jìn)廠、出廠檢查,生產(chǎn)工藝過程中重金屬沾污和缺陷的監(jiān)控等
性價比高,極大程度地降低了企業(yè)的測試成本 
質(zhì)保期:1年

推薦工作條件:
溫度:15-30℃
濕度:10%~80%
大氣壓:750±30毫米汞柱

 


技術(shù)指標(biāo):
少子壽命測試范圍:0.5μs-300μs
測試尺寸:尺寸不限
測試時間:1-30s(具體和信號質(zhì)量及測試精度有關(guān))
電阻率范圍:P型:0.8Ω.cm-100Ω.cm(范圍之外可測量,但將有一定測試偏差)
               n型:0.5Ω.cm-100Ω.cm(范圍之外可測量,但將有一定測試偏差)
激光波長:980±30nm,測試功率范圍:50-500mw,脈沖寬度調(diào)節(jié)范圍:0.5-60μs
工作頻率: 10GHz±0.5
儀器測試精度:±3.5%
電源:~220V 50Hz 功耗<30W
微波測試單元功率:0.01W±10%
掃描頭尺寸:290mm *200mm *65mm, 電器控制單元: 210mm*220mm*60mm
掃描頭重量:3KG,電器控制單元:1kg

典型用戶:
河北,江西,江蘇,浙江,新疆等地拉晶鑄錠客戶

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