產(chǎn)品介紹:
MWR-2S-3I是一款功能異常強(qiáng)大的無接觸少子壽命掃描測(cè)試儀,能夠?qū)尉Ч璋?、多晶硅塊及硅片提供快速、無接觸、無損傷、高分辨率的多功能掃描測(cè)試。一方面,其通過微波光電衰退特性原理來測(cè)量非平衡載流子壽命的;另一方面,通過近紅外對(duì)硅材料的光學(xué)特性,探測(cè)缺陷。并且單晶硅棒、多晶硅塊無須進(jìn)行特殊處理。此設(shè)備是太陽能電池硅片企業(yè)、多晶鑄錠企業(yè)、拉晶企業(yè)不可多得的測(cè)量?jī)x器。
產(chǎn)品特點(diǎn):
■ 系統(tǒng)功能強(qiáng)大,少子壽命及缺陷同時(shí)測(cè)量
■ 無接觸和無損傷測(cè)量
■ 自動(dòng)測(cè)量,具有傳送系統(tǒng),可進(jìn)行連續(xù)測(cè)量
■ 快速測(cè)量,測(cè)試掃描速度達(dá)到2000mm/min
■ 測(cè)試范圍廣:包括硅塊、硅棒、硅片等
■ 應(yīng)用于硅棒硅塊、硅片的進(jìn)廠、出廠檢查,生產(chǎn)工藝過程中重金屬沾污和缺陷的監(jiān)控等
■ 性價(jià)比高,極大程度地降低了企業(yè)的測(cè)試成本
■ 可以在線實(shí)時(shí)對(duì)產(chǎn)品監(jiān)控
推薦工作條件:
■ 溫度:18-26℃
■ 濕度:10%~80%
■ 大氣壓:750±30毫米汞柱
技術(shù)指標(biāo):
■ 主機(jī)尺寸:63cm * 36cm *59cm
■ 測(cè)試尺寸:190mm*190mm*500mm
■ 測(cè)試掃描速度:2000mm/min
■ 電阻率范圍:>0.5Ω.cm
■ 硅棒硅塊掃描間距:≥1mm
■ 儀器測(cè)試精度:±3.5%,信號(hào)處理偏差≤2%
■ 少子壽命測(cè)試范圍:0.1μs-20ms
■ 少子檢測(cè)激光波長(zhǎng):975nm,測(cè)試功率范圍:50-500mw
■ 紅外波長(zhǎng):2300nm,測(cè)試功率范圍:50mw
■ 紅外探傷可分辨最小尺寸:0.1mm
■ 微波工作頻率:10GHz±0.5
■ 微波測(cè)試單元功率:0.01W±10%
■ 電源:~220V 50Hz 功耗<160W
■ 主機(jī)重量:32KG
典型客戶:
德國(guó),瑞士,美國(guó),日本,俄羅斯及國(guó)內(nèi)河北,江西,江蘇,浙江,廣西,上海,遼寧等地太陽能硅片及電池客戶.。